LDT系列半导体激光器参数测试仪

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更新日期:2013-05-21

有效期至:2013-08-19

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销售价格：面议

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所在地区 : 吉林长春

产品分类 : 其他

LDT系列半导体激光器参数测试仪

一、简要描述

LDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性和热特性。打印测试报告，保存数据。

二、应用

LD参数测试仪系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从600-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，满足科研、生产、教学等需要。

三、特点

l 系统按功能模快化, 采用单片机控制, 性能稳定可靠，维修使用方便；

l 测试功率覆盖范围宽：mW~1000W以上；

l 测试封装类型：TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等；

l 高质量的LD驱动电源：既可连续工作，又可脉冲工作，具有LD过流保护功能，低噪声、无浪涌和过脉冲；

l 自动化程度高：整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成；

l 操作简单、测量速度快。

四、功能/技术指标

系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LI_M）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）、近场特性（NF）和热特性（T），具体如下：

l 进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LI_M曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数；

l 进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽；

l 进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角；

l 进行热阻测试；

l 测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。

l 可测量参数：

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